超临界二氧化碳替代传统溶剂剥离光刻胶,表面张力近乎为零,能钻进高深宽比结构,5N高纯CO2配合共溶剂避免对芯片金属线的损伤。...
超临界二氧化碳在31.1摄氏度7.38MPa以上兼具气体渗透性和液体溶解力,可深入高深宽比结构去除光刻胶和颗粒,工艺温度35至60摄氏度压力10至20MPa,无水印无化学残留。...
解析高纯二氧化碳晶圆清洗工艺,适配先进制程、降本减耗,国内需求释放,本土厂商加速替代,成半导体配套高增长赛道。...
电子级高纯二氧化碳适配晶圆先进制程清洗,打破海外垄断,国内需求高增,是支撑半导体供应链自主可控的关键材料。...